ダイヤモンドナイフ・カーボン両面テープ他、電子顕微鏡試料作製用材料器具販売

SEM画像集

cryo dry 25°による断面SEM観察

ウルトラミクロトームとダイヤモンドナイフを用いて断面出しすることで、簡単・迅速に断面SEM観察することが可能です。

■プリント基板のはんだ接合界面

観察条件:加速電圧1.4kV、filtering grid bias voltage 1.1kV

プリント基板と断面出しのため切断した試料の外観
低加速・高分解能BSE像1
比較的密着性が良好な箇所
低加速・高分解能BSE像2
はんだ接合界面が剥離した領域(左側)と、うまく密着している領域(右側)

■PA/ABSの無染色SEM像

観察条件:加速電圧0.4kV、filtering grid bias voltage 0.35kV

PA/ABS断面の低加速SEM像
低加速・高分解能 in-lens SE像
無染色でもサラミ構造が観察できる。

■亜鉛めっき鋼板

観察条件:加速電圧1.3kV、filtering grid bias voltage 1.1kV

■リードフレーム

■ボールグリッドアレー

■インクジェット紙

■塗装鋼板

ご提供:慶應義塾大学 清水健一様

 

※ ダイヤモンドナイフ cryo dry 25° 商品ページ