ダイヤモンドナイフ・カーボン両面テープ他、電子顕微鏡試料作製用材料器具販売

SEM用試料
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商品説明

・二次電子用(軸合わせ、倍率測定、収差補正)

①線間隔(Pitch)25.4μmの銅グリッド

②粒径φ0.474μmのポリスチレンラテックスをマイカ(雲母板)の上に分散したものを試料台に接着し、金蒸着してあります。

・試料台は標準φ10×10mm M4(アルミ)を使用しています。