商品説明

・試料形状：セピオライト粒子（結晶格子縞間隔：1.2nm）をマイクログリッド上に分散支持。

・使用グリッド：Cu150P

・有効使用保証面積：1.0mm角程度以上

・結晶格子縞間隔（1.2nm）を利用して、透過電子顕微鏡の拡大倍率の測定を目的としたご利用に適します。

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価格は予告なく改定する場合があります。